1. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
رده :
QC176
.
83
.
A44
2007
2. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
رده :
QC176
.
83
.
A44
2006
3. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
رده :
QC176
.
83
.
A44
2006
4. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (طهران)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
5. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
رده :
E-BOOK
6. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
رده :
E-BOOK
